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轻松实现从毫米到纳米无缝转换测量。
兼具激光显微镜和探针显微镜功能的一体机。
輕鬆檢測85°
尖銳角採用了有着高N.A. 的专y物镜和专用光学系统（能*大限度发挥405 nm 激光性能），LEXT OLS4500 可以*确地测量一直以来无法测量的有尖锐角的样品。
LEXT 专用物镜 有尖锐角的样品（剃刀）
高度分辨率10nm，轻松测量微小轮廓
由於採用405 nm的短波长激光和更高数值孔径的物镜，OLS4500达到了0.12μm的平面分辨率。因此，可以对样品的表面进行亚微米的测量。结合高精度的光栅读取能力和奥林巴斯近有的亮度检测技术，OLS4500可以分辨出亚微米到数百微米范围内的高度差。此外， 激光显微镜测量还保证了测量仪器的两大指标——“正确性”（测量值与真正值的接近程度）和“重复性”（多次测量值的偏差程度）的性能。
0.12μm行间距 高度差标准类型B, PTB-5从大范围拼接影像中制定
目標區域高倍率影像
容易使視場範圍變小，而通过设置，OLS4500的拼接功能z多可以拼接625幅影像，从而能够获得高分辨率的大范围视图数据。不仅如此，还可以在该大范围视图上进行3D显示或3D测量。
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