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USPM-RU III反射仪可靖确测量当前分光仪无法测量的微小、薄样本的光谱反射率，不会与样本背面的反射光产生干涉。 测量曲面反射率、镀膜评价、微小部品的反射率测定系统。
測量及⼩的⾯积
可以測量鏡⽚的曲⾯，即使是样本表⾯上形成的⼩到Ø60 μm 或Ø30 μm 的细斑。这就提供了使⽤量⾓器检查镜头或其它光学组件的弯曲⾯的能⼒。
快速得出結果
使⽤平场光阑、线性传感器和⾼速分光光度测定法可以在数秒内完成快速、⾼再现性的测量。
采集到平场光阑的全部波长后数秒内完成测量。
減少了背⾯的⼲扰
⽆须代价⾼昂的步骤去防⽌背⾯反射即可实现表⾯反射率的靖确测量。通过使⽤环形照明光的特殊光学元件来减少背⾯反射光，该特殊光学元件类似于共焦系统，能够阻挡所有离焦光反射。⽆轮光学组件是球⾯、⾮球⾯，还是平⾯，USPM-RU III 都不需要样本进⾏防反射处理。
X-Y ⾊度图和L*A*B 测量
可以根據由分光反射率確定的光譜分光光度⽐⾊法测量物体的颜⾊。
便於使⽤的软件有助于⽤户得出通过/ 未通过结果
在反射係數和⾊度图⾥输⼊标准值，从⽽可以做出未通过/ 通过的决定。
主要测量因素：反射率，物体的颜⾊
主要應⽤
● 光学透镜、反射镜、棱镜、光学镀膜部品
● LED 反射器、MEMS 反射镜
技術參數
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