奧林巴斯鏡片反射率測定儀USPM-RU-W-上海万赢体育光电科技有限公司

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奧林巴斯顯微鏡

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測定物體顏色

根據反射率數據顯示XY色度图、L*a*b*色度图及相关数值。

測定透過率　(选配)

從受臺下部透過Ø2mm的平行光，测定平面样品的透过率。

透过率测定光路图

測定入射角爲45度的反射率（选配）

從側面向45度面反射Ø2mm的平行光，测定其反射率。

45度反射率测定光路图

域的高精度&高速测定

光学系图	實現高速測定使用平面光柵及線傳感器進行全波長同時分光測定，从而实现高速测定。

反射率测定图例

十分適用於測定細小部件、镜片的反射率

新設計了可以在Ø17~70μm的测定区域中进行非接触测定的专用物镜。通常的分光光度计不能进行测定的细小电子部件或镜片等的曲面，也可以实现再现性很高的测定。

消除背面反射光的原理

測定反射率時，不需要背面防反射处理

將專用物鏡與環形照明組合，不需要进行被检测物背面的防反射处理，就可测定*薄0.2mm的反射率*。*使用40×物镜时，在本公司的测定条件下进行测定。

可選擇的膜厚測定方法

根據測定的分光反射率數據進行單層膜或多層膜的膜厚解析。可以根据用途选择*佳的测定方法。

峰谷法膜厚解析经过信息图例

峯谷法

這是一種根據測定的分光反射率值的峯值與低谷的週期性計算出膜厚的方法，对于测定单层膜是有效的。不需要复杂的设置，可以简单地求出。

傅里叶转换法膜厚解析经过信息图例

傅里葉轉換法

這是一種根據測定的分光反射率值的週期性計算膜厚的方法，对于单层膜及多层膜的测定有效。难以检测出峰值及低谷等时，可以几乎不受噪音的影响进行解析。

曲线调整法膜厚解析经过信息图例

曲線調整法

這是一種通過推算測定的分光反射率值與根據某種膜構造計算的反射率的差達到*小的构造计算出膜厚的方法，对于单层膜及多层膜的测定有效。还可以进行不会出现峰值及低谷的薄膜解析。

多樣化應用

高速、高精度地应对多样化测定需求。

通過測定球面、非球面的镜片、滤镜、反射镜等光学元件的反射率，进行涂层评价、物体颜色测定、膜厚测定。

數碼相機鏡片
投影仪镜片
光读取头镜片
眼镜片

適用於LED反射镜、半导体基板等微小电子部件的反射率测定、膜厚测定。

LED包装
半导体基板

適用於平面光學元件、彩色滤镜、光学薄膜等的反射率测定、膜厚测定、透过率测定。

液晶彩色濾鏡
光学薄膜

適用於棱鏡、反射镜等45度入射产生的反射率测定。

棱鏡
反射镜

技術參數

反射率測定			透過率測定^*1	45度反射测定^*1
名稱	近紅外顯微分光測定儀			近紅外顯微分光測定儀用透过测定选配件	近紅外顯微分光測定儀用 45度反射测定选配件
型號	USPM-RU-W
測定波長	380～1050nm
測定方法	對參照樣品的比較測定			對1*0%基准的透过率测定	對參照樣品的比較測定
測定範圍	參照下列對物鏡的規格			約ø2.0mm
測定再现性（3σ）^*2	反射率測定	使用10×、20×物镜时	±0.02[%]以下（430-1010nm）、 ±0.2[%]以下（上述以外）	±1.25[%]以下（430-1010nm）、 ±5.0[%]以下（左侧记载除外）
		使用40×物镜时	±0.05[%]以下（430-950nm）、 ±0.5[%]以下（上述以外）
	厚膜測定	±1%		-
波長顯示分解能	1nm
照明附件	專用鹵素燈光源　 JC12V 55W（平均寿命700h）
位移受臺	承載面尺寸：200(W)×200(D)mm 承重：3 kg 工作范围：(XY) ±40mm, (Z)125mm
傾斜受臺	－			承載面尺寸：　140(W)×140(D)mm 承重：　1 kg 工作范围：(XT) ±1°, (YT) ±1°
裝置質量	主體：约26 kg（PC除外）			主體：约31 kg（PC除外）^*3
	控制電源箱：约6.7kg
裝置尺寸	主體部位：360(W)×446(D)×606(H)mm			主體部位：360(W)×631(D)×606(H)mm
	控制電源箱：250(W)×270(D)×125(H)mm
電源規格	輸入規格：100-240V (110VA) 50/60Hz
使用環境	水平無振動的場所温度：15～30℃ 湿度：15～60％RH（无结露）

*1 选件组件　*2 本社测定条件下的测定　*3 装配透过率测定套件与45度反射测定套件的总重量为33kg。

對物鏡

型號	USPM-OBL10X	USPM-OBL20X	USPM-OBL40X
倍率	10x	20x	40x
NA	0.12	0.24	0.24
測定範圍^*4	70μm	34μm	17μm
工作距離	14.3mm	4.2mm	2.2mm
樣品的曲率半徑	±5mm～	±1mm～	±1mm～

*4 点径

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十分適用於測定細小部件、镜片的反射率

測定反射率時，不需要背面防反射处理

可選擇的膜厚測定方法

峯谷法

傅里葉轉換法

曲線調整法

多樣化應用

通過測定球面、非球面的镜片、滤镜、反射镜等光学元件的反射率，进行涂层评价、物体颜色测定、膜厚测定。

適用於LED反射镜、半导体基板等微小电子部件的反射率测定、膜厚测定。

適用於平面光學元件、彩色滤镜、光学薄膜等的反射率测定、膜厚测定、透过率测定。

適用於棱鏡、反射镜等45度入射产生的反射率测定。

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